Detecting defects in adhesion between a metal hemisphere and a polymer base

Julkaisussa: 2013 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS)
Tekijät: Salmi, A.; Heino, O.; Nieminen, H. J.; Salmi, T.; Karppinen, P.; Patola, T.; Haeggstrom, E.; Hacking, S. A.
Tekijöiden määrä: 8
Kieli: englanti
Julkaisutyyppi: A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
Julkaisufoorumiluokka : 1
JUFO-ID: 72052
Julkaisuvuosi: 2013
Emojulkaisun nimi: 2013 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS)
Sivunumerot: 1692 - 1695
Tieteenala: Luonnontieteet
Fysiikka
Koulutusala: Luonnontieteellinen
Paikalliset tekijät ja heidän affiliaationsa: Salmi, A. - Helsingin yliopisto, Fysiikan laitos
Haeggstrom, E. - Helsingin yliopisto, Fysiikan laitos
Nieminen, H. J. - Helsingin yliopisto, Fysiikan laitos
Heino, O. - Helsingin yliopisto, Fysiikan laitos
Karppinen, P. - Helsingin yliopisto, Fysiikan laitos
Linkit: https://dx.doi.org/10.1109/ULTSYM.2013.0179
Organisaation sisäinen affiliaatio: Helsingin yliopisto, Fysiikan laitos