In Situ Positron Annihilation Spectroscopy Analysis on Low-Temperature Irradiated Semiconductors, Challenges and Possibilities

Julkaisussa: Physica Status Solidi. A: Applications and Materials Science
Tekijät: Slotte, Jonatan; Kilpeläinen, Simo; Segercrantz, Natalie; Mizohata, Kenichiro; Räisänen, Jyrki; Tuomisto, Filip
Tekijöiden määrä: 6
Kieli: englanti
Julkaisutyyppi: A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Julkaisufoorumiluokka : 1
JUFO-ID: 65010
Julkaisuvuosi: 2021
ISSN: 1862-6300
1862-6319
Emojulkaisun nimi: Physica Status Solidi. A: Applications and Materials Science
Volyymi: 218
Numero: 1
Tieteenala: Luonnontieteet
Fysiikka
Paikalliset tekijät ja heidän affiliaationsa: Tuomisto, Filip - Aalto-yliopisto
Slotte, Jonatan - Aalto-yliopisto
Segercrantz, Natalie - Aalto-yliopisto
Kilpeläinen, Simo - Aalto-yliopisto
Tuomisto, Filip - Helsingin yliopisto
Slotte, Jonatan - Helsingin yliopisto
Räisänen, Jyrki - Helsingin yliopisto
Mizohata, Kenichiro - Helsingin yliopisto
Sarja: physica status solidi applications materials science
Aiheet:
GE
Linkit: http://hdl.handle.net/10138/325663
https://research.aalto.fi/files/56595414/pssa.202000232.pdf
https://dx.doi.org/10.1002/pssa.202000232
Organisaation sisäinen affiliaatio: Aalto-yliopisto, Department of Applied Physics
Helsingin yliopisto, Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta