Stability of Tip in Adhesion Process on Atomic Force Microscopy Studied by Coupling Computational Model

Tekijät: Senda, Yasuhiro; Blomqvist, Janne; Nieminen, Risto
Tekijöiden määrä: 3
Kieli: englanti
Julkaisutyyppi: A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Julkaisufoorumiluokka : 0
JUFO-ID: 86115
Julkaisija: Korean Vacuum Society
Julkaisuvuosi: 2017
ISSN: 2288-6559
Volyymi: 26
Numero: 1
Sivunumerot: 6 - 10
Tieteenala: Luonnontieteet
Fysiikka
Paikalliset tekijät ja heidän affiliaationsa: Blomqvist, Janne - Aalto-yliopisto, Department of Applied Physics
Nieminen, Risto - Aalto-yliopisto, Department of Applied Physics
Sarja: Applied Science and Convergence Technology
Aiheet:
Linkit: https://dx.doi.org/10.5757/ASCT.2017.26.1.6
Organisaation sisäinen affiliaatio: Aalto-yliopisto, Department of Applied Physics