Characterisation of irradiated thin silicon sensors for the CMS phase II pixel upgrade

Tekijät: Tuuva, Tuure; Adam, W.; Bergauer, T.; Brondolin, E.; Dragicevic, M.; Friedl, M.; Frühwirth, R.; Hoch, M.; Hrubec, J.; König, A.; Steininger, H.; Waltenberger, W.; Alderweireldt, S.; Beaumont, W.; Janssen, X.; Lauwers, J.; Van Mechelen, P.; Van Remortel, N.; Van Spilbeeck, A.; Beghin, D.
Tekijöiden määrä: 20
Julkaisutyyppi: A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä
Julkaisufoorumiluokka : 2
JUFO-ID: 55838
Julkaisija: Springer Verlag (Germany): SCOAP3 / Springer Verlag (Germany)
Julkaisuvuosi: 2017
ISSN: 1434-6044
Tieteenala: Luonnontieteet
Fysiikka
Paikalliset tekijät ja heidän affiliaationsa: Tuuva, Tuure - Lappeenrannan teknillinen yliopisto, Optoelektroniikka
Sarja: European Physical Journal C: Particles and Fields
Organisaation sisäinen affiliaatio: Lappeenrannan teknillinen yliopisto, Optoelektroniikka