Positron annihilation spectroscopy, experimental and theoretical aspects

Julkaisussa: Characterisation and Control of Defects in Semiconductors
Tekijät: Slotte, Jonatan; Makkonen, Ilja; Tuomisto, Filip
Tekijöiden määrä: 3
Kieli: englanti
Julkaisutyyppi: A3 Kirjan tai muun kokoomateoksen osa
Julkaisufoorumiluokka : 1
JUFO-ID: 5512
Julkaisija: Institution of engineering and technology
Julkaisuvuosi: 2019
Emojulkaisun nimi: Characterisation and Control of Defects in Semiconductors
Sivunumerot: 263 - 288
Tieteenala: Luonnontieteet
Fysiikka
Paikalliset tekijät ja heidän affiliaationsa: Tuomisto, Filip - Helsingin yliopisto, Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta
Makkonen, Ilja - Helsingin yliopisto, Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta
Aiheet:
Linkit: https://dx.doi.org/10.1049/pbcs045e_ch6
Organisaation sisäinen affiliaatio: Helsingin yliopisto, Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta